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Zeiss Evo 10 Rasterelektronenmikroskop
Hersteller: Zeiss Modell: Evo 10
Beschreibung: Klassisches Rasterelektronenmikskop mit Wolfram-Kathode, angeschlossenes energiedispersives Mikroanalysensystem (Zeiss Smart EDX), mittelgroße Probenkammer, Betrieb mit variablem Druck.
Verwendungszweck: Untersuchung von Bruchflächen, Funktionsoberflächen, Gefügen bei hoher Vergrößerung. Mikrobereichsanalysen
Technische Daten:
Detektoren: SE, BSE, EDX
Vergrößerungen stufenlos bis ca 300000x
Auflösungsvermögen theor. ca 5 nm
Standardlose Mikroanalyse
Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor)
Auflösung ca 130 eV
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Zeiss Sigma 500 VP Rasterelektronenmikroskop
Hersteller: Zeiss Modell: Sigma 500 VO
Beschreibung: Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, großer Probenkammer, angeschlossenenm energiedispersivem Mikroanalysensystem (EDAX)
Verwendungszweck: Untersuchung von Bruchflächen, Funktionsoberflächen, Gefügen bei hoher Vergrößerung. Mikrobereichsanalysen
Technische Daten:
Detektoren: SE, BSE, EDX, EBSD, STEM
Vergrößerungen stufenlos bis ca 1000000x
Auflösungsvermögen theor. ca 0,9 nm
Standardlose Mikroanalyse
Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor)
Auflösung ca 130 eV
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Rasterelektronenmikroskop mit EDX
Hersteller: FEI Philips Modell: XL 30
Beschreibung: Klassisches Hochvakuum mit großer Probenkammer, Rasterelektronenmikroskop mit angeschlossenem energiedispersivem Mikroanalysensystem (EDAX)
Verwendungszweck: Untersuchung von Bruchflächen, Funktionsoberflächen, Gefügen bei hoher Vergrößerung. Mikrobereichsanalysen
Technische Daten:
Detektoren: SE, BSE, EDX
Vergrößerungen stufenlos bis ca 100000x
Auflösungsvermögen theor. ca 5 nm
Standardlose Mikroanalyse
Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor)
Auflösung ca 130 eV
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Lichtmikroskop Zeiss Axiomager
Hersteller: Zeiss Modell: AxioImager.M2m
Beschreibung: Metallmikroskop mit Digitalkamera und angeschlossenem Bildanalysesystem.
Verwendungszweck: Untersuchung metallographischer Proben, Gefügeuntersuchung, Gefügeanalyse.
Technische Daten: Vergrößerungen: Okular 10x / Objektive 1,25x 2,5x 5x 10x 20x 50x,100x
Kontrastierungen: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, Differtial-Interferenzkontrast.
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Lichtmikroskop Zeiss Axioplan
Hersteller: Zeiss Modell: Axioplan
Beschreibung: Metallmikroskop mit Digitalkamera und angeschlossenem Bildanalysesystem.
Verwendungszweck: Untersuchung metallographischer Proben, Gefügeuntersuchung, Gefügeanalyse.
Technische Daten: Vergrößerungen: Okular 10x / Objektive 1,25x 2,5x 10x 20x 50x,100x
Kontrastierungen: Hellfeld, Dunkelfeld, Differtial-Interferenzkontrast.
Hersteller: Zeiss Modell: Axiolab
Beschreibung: Auflichtmikroskop mit Digitalkamera.
Verwendungszweck: Untersuchung Schliffproben.
Technische Daten: Vergrößerungen: Okular 10x / Objektive 5x 10x 20x 50x,100x
Kontrastierungen: Hellfeld
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Lichtmikroskop Zeiss
Hersteller: Zeiss
Beschreibung: Metallmikroskop in gestürzter Bauweise.
Verwendungszweck: Untersuchung metallographischer Proben, Gefügeuntersuchung, Gefügeanalyse.
Technische Daten:
Vergrößerungen: Okular 12,5x / Objektive 4x 8x 16x 40x 80x
Kontrastierungen: Hellfeld, Dunkelfeld, Interferenzkontrast.
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Stereomikroskop Wild
Hersteller: Wild Modell: M 8
Beschreibung: Stereomikroskop mit Ringleuchte und Digitalkamera
Verwendungszweck: Stereomikroskkopische Betrachtung von Oberflächen
Technische Daten: Vergrößerung stufenlos veränderbar (Zoom) 6x bis 50x Vorsatzlinsen 0,4x und 1,6x
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Digitalmikroskop
Hersteller: Keyence Modell: VHX6000
Auflicht, Durchlicht
Zoom-Optiken mit Vergrößerungen von 5x bis 1000x (bezogen auf einen 15" Bildschirm)
Tiefenscharfe Bilderfassung, Panoramabilder, 3D Bildzusammensetzungen,
diverse Messfunktionen: Profil, Rauheit, ...
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Nikon Messmikroskop
Hersteller: Nikon Modell: Measurescope MM-22
Beschreibung: Messmikroskop mit Auf- und Durchlichtbeleuchtung und motorisch angetriebenem X/Y-Koordinatentisch
Verwendungszweck: Optische, berührungslose Längenmessung
Technische Daten: Vergrößerung 50x
Zustellgenauigkeit Koordinatentisch 1µm
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Rasterkraftmikroskop
Das ATOMIC FORCE MICROSCOPE XE7 von Parks verfügt über alle hochmodernen Technologien und dennoch einfache Geräte, die für die Untersuchung morphologischer, topografischer, elektrischer, magnetischer und nanomechanischer Eigenschaften der Materialien verwendet werden. Die flachen, orthogonalen und linearen Scan-Messungen sowie das einzigartige Design des XE7, das separate XY- und Z-Scanner umfasst, helfen beim Erhalten hochauflösender Probenbilder und der charakteristischen Messungen, die seiner Nanostruktur entsprechen.
Das XE7 befindet sich im Hauptgebäude der TU Wien im Interfakultären Labor für Mikro- und Nanomechanik biologischer und biomimetischer Materialien.
Technische Spezifikation
- XY-Scanner: Biegungs-XY-Scanner mit Einzelmodul und geschlossenem Regelkreis
- Z-Scanner: Geführter Z-Scanner mit hoher Kraft
- Probendurchmesser: Bis zu 100 mm
- Dicke: Bis zu 20 mm
- AFM-Modi: True Non-Contact AFM, Basic Contact AFM, Lateral Force Microscopy (LFM), Phase Imaging und Intermittent (Tapping) AFM
Hersteller: Zeiss Modell: Stemi 2000-C
Beschreibung: Stereomikroskop
Verwendungszweck: Stereomikroskkopische Betrachtung von Oberflächen
Technische Daten: Vergrößerung: 10x bis 50x
Hersteller: Bruker Modell: Hyperion 1000
Beschreibung: Basis-Infraror-Mikroskop mit Transmissions- und Reflexionsmodi sowie transparenter Schneidenblende
Verwendungszweck: Probencharakterisierung, Produktkontrolle und -entwicklung
Technische Daten: siehe Herstellerangaben
Das LSM 800 ist ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop von Zeiss auf Basis eines inversen Observer Z1. Die invertierte Konfiguration ist für die Bildgebung sowohl lebender Zellen als auch fixierter Proben ausgelegt. Das am IMST erhältliche Gerät ist mit einem Inkubator zur Temperatur- und CO2-Kontrolle ausgestattet. Es ist in der Lage, mehrdimensionale Experimente durchzuführen, darunter Mehrkanalerfassung, Z-Stapel, Kachelscannen und Zeitraffer. Unser LSM800 ist mit 4 Laserlinien sowie Detektoren für Fluoreszenzsignale und Durchlicht-DIC ausgestattet. Für spezialisierte Experimente kann ein Airyscan GaAsP-Detektor verwendet werden, um die räumliche Auflösung und das Signal-Rausch-Verhältnis zu verbessern.
Technische Spezifikation
- Detektoren: Zwei GaASP-Detektoren, Airyscan
- Laserlinien: 405, 488, 561, 633 nm.
- Objektive: 2,5x, 10x, 40x (Wasser)