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JEOL NeoARM 200F (Prospektbild - (c) JEOL )

Jeol NeoARM 200F

Das doppeltkorrigierte JEOL NeoARM 200F wird im September 2025 installiert. Die Vorzüge gegenüber den beiden TECNAI TEMs (F20 und G20) besteht in der Korrektur der sphärischen Aberration der Kondensorlinse um im STEM-Modus echte atomare Auflösung zu erreichen, als auch in der Korrektur der sphärischen Aberration der Objektivlinse, welches atomar aufgelöste Videos bei in-situ Experimenten im TEM-Modus erlauben wird.

Emitter: C-FEG
Betriebsspannung: 20kV, 60 kV, 200 kV
Cs-Korrektur STEM: CEOS ASCOR, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster
Cs.Korrektur TEM: CEOS ATCOR, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster
STEM: BF, ABF, DF, HAADF, DPC, SE
Elektronendosismodulator: ja
Kamera: ja
EELS/EFTEM: ja
EDX: JEOL Dual-EDX System 200

Gitterauflösung: 0.07 nm
Punktauflösung TEM: 0.12 nm (@200 kV)
Punktauflösung TEM: 0.17 nm (@60 kV)
Punktauflösung STEM: 0.078 nm (@200 kV)
Punktauflösung STEM: 0.118 nm (@60 kV)

Energieauflösung: 0.3 eV (@200 kV)
Energieauflösung: 0.3 eV (@60 kV)
Energieauflösung: 0.3 eV (@20 kV)
Energieauflösung EDX: \(\leq\)129 eV

Abbildung TEM/STEM/HRTEM
Elektronenbeugung
EMCD-Messungen
Halbleiterforschung (VEELS)
Low Voltage (20 keV) EELS
Auftragsforschung/Forschungskooperationen
Chemische Mikroanalyse mit atomarer Auflösung
Katalyseforschung, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster

single tilt holder
analytical double tilt holder
tomography holder