Die Doctoral School "Unravelling Advanced 2D Materials (TU-D)" unter der Leitung von Florian Libisch, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster hat es sich zur Aufgabe gemacht, die nächste Generation von Wissenschaftlern auf dem Gebiet der 2D-Materialien auf dem zukünftigen Stand der Technik auszubilden. Durch die Zusammenarbeit der an der TU Wien vorhandenen Weltklasse-Expertisen, zu denen auch das Analytical Instrumentation Center zählt, konnte ein Doktorats-Programm aufgestellt werden, an dem Francesco Laudani, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster an einem Teilprojekt forscht. Francesco ist seit Oktober 2023 am AIC tätig und beschäftigt sich mit der Ober- und Grenzflächenanalyse von MoS2. Die Betreuung übernimmt dabei Annette Foelske, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster, die gleichzeitig Leiterin des Analytical Instrumentation Centers ist. Ein Großteil der zu untersuchenden Proben wird vom Team des Instituts für Photonik unter der Leitung von Thomas Müller, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster bereitgestellt. 

Ziele

  • XP- und Auger-Meitner-Elektronenspektroskie von kommerziell exfoliertem und CVD-gewachsenem MoS2, zur Gewinnung einer soliden Spektren-Datenbank
  • Manipulation von MoS2 durch Ionen und Wärme und anschließende Untersuchung der Veränderungen in den XP- und Auger-Meitner-Spektren, wie z. B. chemische Veränderungen, Ladungsphänomene, van der Waals-Wechselwirkungen oder thermische Desorption von Adsorbaten
  • Herstellung elektronischer Bauelemente auf MoS2-Basis für die in-situ-XPS-Analyse im Ultrahochvakuum
  • Charakterisierung und Manipulation der Geräteleistung und Korrelation der Ergebnisse mit in-situ-XPS-Daten

Methoden

  • Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung der Oberflächen mit Hilfe des SPECS u-Focus XPS und Versa Probe III XPS  
  • Parallel winkelaufgelöste Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (PAR-XPS) mit Hilfe des SPECS u-Focus XPS zur zerstörungsfreien Untersuchung von Tiefenprofilen mit einer Informationstiefe von weniger als 10 nm
  • Auger-Meitner-Elektronenspektroskopie (AMES) zur Bestimmung der Elementverteilungen an der Oberfläche mit Hilfe des PHI 710 AES
  • Sputtern der Oberflächen zur Reinigung und zur Erstellung eines Tiefenprofils im SPECS u-Focus XPS (Argon-Ionenquelle), Versa Probe III XPS (Argon-Ionenquelle und Argon-Cluster-Quelle) und PHI 710 AES (Argon-Ionenquelle und Fokussierter Ionen Strahl)
  • Energiedispersive Spektroskopie (EDS) mit Hilfe des PHI 710 AES
  • Heizen, Kühlen und Kontaktieren der Probe für in situ Experimente im SPECS u-Focus XPS (Heizen und Kühlen), Versa Probe III XPS (Heizen, Kühlen und Kontaktieren) beziehungsweise PHI 710 AES (Heizen und Kontaktieren)