Struktur & Analytik

Techniken / Methoden

  • Elementanalyse: EPMA, EELS
  • Strukturanalyse: TEM, XRD, Gitterfehler
  • Bildgebende Verfahren
  • Entwicklung neuer Analysemethoden

Geräte

  • Elektronenmikroskope (Raster- und Transmissionselektronenmikroskope)    
  • Photoelektronenspektrometer
  • Röntgendiffraktometer
  • Röntgenfluoreszenzspektrometer
  • Rasterkraftmikroskop
Röntgendiffraktometer  - XRD

© IFP

Röntgendiffraktometer - XRD

Mit einem Röntgendiffraktometer wird die Struktur von kristallinen Phasen in Festkörpern untersucht. Die Winkel und Intensitäten der gebeugten Röntgenstrahlung werden vermessen.

Rasterkraftmikroskop - AFM

© IFP

Rasterkraftmikroskop - AFM

Ein Rasterkraftmikroskop dient der Abtastung von Oberflächen und der Messung von atomaren Kräften im Nanometerbereich. Eine nanoskopisch feine Nadel wird mittels einer Blattfeder gegen die zu messende Probe gedrückt. Die atomaren Kräfte verbiegen die Blattfeder und die daraus resultierende Auslenkung kann mit Licht gemessen und so die Kraft, die zwischen den Atomen der Oberfläche und der Spitze wirkt, berechnet werden.