VO 134.326, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster 2.0h 3.0 ETCS

Gareth Parkison & Michael Schmid

Diese Vorlesung wird im Sommersemester angeboten und üblicherweise auf Englisch abgehalten. Für Teilnehmer*innen gibt es ein Skriptum (deutsch) und Folien (englisch) auf TISS, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster.

Oberflächenphysik ist die Grundlage vieler physikalischer und chemischer Prozesse – Katalyse, Korrosion, Herstellung dünner Schichten, etc. – und wird auch zur Charakterisierung von Materialien und Bauteilen der Nanotechnologie eingesetzt. Im Bereich der Grundlagenforschung sind an Oberflächen noch viele neue und spannende Dinge zu entdecken!

In der Vorlesung werden zuerst die wichtigsten Geräte der Oberflächenphysik dargestellt, inklusive einer kurzen Einführung in die (Ultrahoch-)Vakuumphysik. Im zweiten Teil werden die unterschiedlichen Messmethoden behandelt, von Rastersondenmikroskopie (STM, AFM) über chemische Analytik (XPS, AES, SIMS, Ionenstreuung) bis hin zu Beugungsmethoden und Desorptionsspektroskopie.

Anrechenbarkeit

  • Studienplan Technische Physik (066 461): Wahlfach im “Masterstudium” in den Katalogen
    - Physik der kondensierten Materie und
    - Angewandte Physik
  • Studienplan Physikalische Energie- und Messtechnik (066 460): Wahlfach im Katalog
    - Physikalische Messtechnik
  • Masterstudium Materialwissenschaften (066 434): Wahlfach im Katalog
    - Materialcharakterisierung