Forschungsgebiete

Die Hauptaktivitäten der Arbeitsgruppe Rastersondenmikroskopie lagen viele Jahre lang auf dem Gebiet der Ballistischen Elektronenmikroskopie (BEEM) auf Halbleiter-Nanostrukturen. Übersichtsartikel zu diesen Aktivitäten finden Sie unten aufgelistet. Neuere Arbeiten widmen sich den Gebieten der Raster-Kapazitätsmikroskopie (Scanning Capacitance Microscopy, SCM) und Raster-Mikrowellenmikroskopie (Scanning Microwave Microscopy, SMM). Publikationen dazu finden sich in unserer Publikationsliste.

Übersichtsartikel zum Thema BEEM und Elektronentransport in Nanostrukturen

• J.Smoliner, D.Rakoczy, M.Kast, Hot Electron Spectroscopy / Microscopy,Rep. Prog. Phys. 1863-1914, (2004)
• J.Smoliner, G.Ploner, Electron transport and confining potentials in nanostructures, Handbook of Nanostructured Materials and Nanotechnology, Vol.3, p1-91, ed. H.Nalwa, Academic Press (2000)
• J.Smoliner, Tunneling spectroscopy of low dimensional states, Semiconductor Science and Technology, 11, 1, (1996)

Während der letzten Jahre verbrachte ich meine Zeit vermehrt mit der Lehre und dem Verfassen und Übersetzen von Lehrbüchern. Eine Liste der entstandenen Werke sehen sie hier:

Lehrbücher über die Grundlagen der Halbleiterphysik und Halbleiterbauelemente

• Grundlagen der Halbleiterphysik I: Das Skriptum  in Buchform bei Springer (kostenfrei im TUNET!)
• Grundlagen der Halbleiterphysik II: Das Skriptum in Buchform bei Springer (kostenfrei im TUNET!)I
• S.M.Sze, Physik der Halbleiterbauelemente (Deutsche Übersetzung der 4ten Auflage von S.M.Sze, Physics of Semiconductor Devices)